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易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時代！
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
LabX XRD-6100
配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
垂直型測角儀配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
XRD-6100具有本質安全結構。
只有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。
配備高速運轉（1000°/min）及高精度角度重現性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
驅動機構為獨立2軸驅動，可選擇θ-2θ聯動或θ、2θ軸獨立驅動，特別對薄膜測定行之有效。
備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。
對應工業環境測定標準 · 工業環境評價標準修訂
X射線衍射裝置XRD-6000 環境測定包
適于工業環境中的游離硅以及石棉的定性 · 定量分析。
在勞動安全衛生法中，關于因勞動者在工作中的暴露而對其造成健康損害的92種物質，規定必須實施其作業環境的測定。其中，粉塵中的游離硅以及石棉的定性·定量分析可以使用X射線衍射裝置。最近因相關法規的修訂，對有害物質的管理濃度、分析程序進行了修改。
本測定包配備了依據「基底標準吸收校正法」的樣品臺和定量軟件，這不僅是使用X射線衍射裝置XRD-6000對收集在濾紙上的工業環境測定中的游離硅、石棉進行定性分析需要的，在這些微量樣品的定量分析中也是必備的。
游離硅的定性·定量分析
工業環境測定中礦物性粉塵的管理濃度為按以下公式計算出的量。（從2005年4月1日開始實行）
E=3.0/（0.59Q+1） （參考）修訂前E=2.9/（0.22Q+1）E：管理濃度mg/m3 Q：游離硅含有率（%）
所以知道粉塵中游離硅酸的含有率是很重要的。
游離硅種類有石英、微晶物、鱗石英等。 在此回修訂中，首先規定使用X射線衍射裝置掌握含有什么種類的游離硅（定性分析），根據其定性結果，以使用磷酸法或X射線衍射裝置的基底標準吸收校正法進行定量。
下圖表示這些游離硅的衍射模式，分別具有各自的特征峰，因此，易于識別其種類。
物質的衍射X射線強度因受基底物質吸收的影響，必須進行校正。為進行校正必須求得基底物質的X射線吸收系數。可在一次的測定中將其完成的方法就是「基底標準吸收校正法」。本測定包包括采用了此基底吸收校正法的專用定量分析軟件。
石棉的定性·定量分析
關于石棉，在2005年7月實施了【石棉傷害預防規則】。適用此規則的建材等樣品，如果其石棉含量超過重量5％左右以上，則可使用X射線衍射裝置以標準添加法或內標添加法對采集來的樣品進行定量，但對于少于上述含量的樣品有時不能進行定量。
此時，作為只溶解樣品基底成分的前處理方法，實施甲酸前處理法，然后使用X射線衍射裝置以基底標準吸收校正法進行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中，也可使用配備有基底標準吸收校正法的環境測定樣品臺的X射線衍射裝置XRD－6000環境測定包。
各種石棉的衍射模式
環境測定包
| 配置 | ||
| 1. | X射線衍射裝置XRD-6000（2kW,NF Cu管球） | 1套 |
| 2. | 石墨單色儀（CM-3121） | 1套 |
| 3. | 環境測定樣品臺（RS-2001） · 旋轉樣品臺 · 基底標準吸收校正用濾片架（Zn） · 環境定量軟件1套 | |
| 4. | 冷卻水循環裝置 | 1套 |
| 選配件 | |
| 1. | 基底標準吸收校正用濾片架（Al） |
| 2. | ICDD數據庫（PDF2 CD-ROM） |
| 3. | PDF2檢索軟件 |
